用途：
PS-200紫外可見光譜儀可以測量300～850nm的入射、反射和透射光譜，通過電腦軟件可以直接讀出入射光、反射光、透射光的光譜圖。
特點(diǎn)：
便攜堅固的鋁制外殼設(shè)計
APOGEE 的余弦校正器，確保低角度光的精確測量
在標(biāo)定的測量范圍350—850nm((NIST 可追溯性)內(nèi)分辨率小于0.85nm
技術(shù)規(guī)格：
探頭主體 | |
波長靈敏度 | 190～850nm |
輻射校正范圍 | 300～850nm |
波長分辨率 | 0.85nm |
檢測器類型 | CCD 2048像素 |
光柵類型 | 全息光柵和羅蘭光柵，590g/nm |
數(shù)字轉(zhuǎn)化 | 16 bit |
信號噪聲比 | 1000:1 |
雜散光 | 0.02%在435nm ; 0.2%在200nm |
測量重復(fù)性 | ＜1% |
波長不確定性 | ±10% |
檢測器曝光時間 | 1ms-65s |
方向響應(yīng) | ±5%（80°天頂角） |
輸出接口 | USB 2.0 |
電源要求 | 5V DC/100mA，采用USB線纜 |
工作溫度 | 0-60℃ |
光纜長度 | 2米 |
尺寸 | 69mm×100mm×150mm |
重量 | 900g |
可選附件：
序號 | 名稱 | 型號 | 產(chǎn)品規(guī)格說明 | 圖片 |
1 | 反射探頭 | AS-003 | 用于實驗室光譜儀的反射率探頭 |
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2 | 反射測量標(biāo)準(zhǔn)盤 | AS-004 | 測量反射光譜時先用它對AS-003進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)測量 |
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產(chǎn)地：美國
